设计用途

能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF），

用于无损测量镀层厚度及分析材料成分

可测量元素范围

多时可同时测定从氯（17）到铀（92）中的24中元素

（使用选配的WinFTM®BASIC软件时）

形式设计

台式仪器，测量门向上开启

测量方向

由上往下

X射线源

X射线管

热稳定钨靶射线管

高压

三档：30KV、40KV、50KV

孔径（准直器）

φ0.3mm；可选长方形0.3x0.05mm

基本滤片

固定

测量点尺寸

取决于测量距离和孔径大小，实际的量点大小与视频

窗口中显示的一致，较小测量点大小：约为φ0.51mm

X射线探测

X射线探测器

比例接收器

测量距离

0...25mm，使用受专有保护的DCM测量距离补偿法

样品定位

样品放置

手动

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线

光束方向，手动聚焦，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）

可调节亮度的LED照明

图像放大倍率

40x~160x

计算单元

计算机

Windows®PC

软件

标准：FISCHER WinFTM®LIGHT

可选：FISCHER WinFTM®BASIC，PDM®，SUPER

工作台

形式设计

手动XY轴工作台

样品放置可用区域

310x320mm

X/Y轴工作台移动范围

30x40mm

样品很大重量

2KG

样品很高高度

174mm

电气参数

电源要求

交流220V，50HZ

功耗

很大120W（不包括计算机）

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸（宽x深x高）

403x588x444mm

重量

大约45KG

环境要求

使用时温度

10℃~40℃

存储或运输时温度

0℃~50℃

空气相对湿度

≤95%，无结露

执行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497和ASTM B 568

形式标准

作为受完全保护的仪器，

符合德国"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定