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                    德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL230 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用:
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄镀层,例如:装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
测量印刷线路板
分析电镀溶液
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪技术参数:
通用规格  | |
设计用途  | 能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXPF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。  | 
元素范围  | 从元素氯(17)到铀(92)  | 
配有可选的WinFTM®BASIC软件时,多时可同时测定24种元素  | |
设计理念  | 台式仪器,测量门向上开启  | 
测量方向  | 由上往下  | 
X射线源  | |
X射线管  | 带铍窗口的钨管  | 
高压  | 三档:30KV,40KV,50KV  | 
孔径(准直器)  | φ0.3mm 可选:φ0.1mm;φ0.2mm;长方形0.3mm x 0.05mm  | 
测量点尺寸  | 取决于测量距离及使用的准直器大小  | 
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致  | |
较小的测量点大小约φ0.2mm  | |
X射线探测  | |
X射线接收器  | 比例接收器  | 
测量距离  | 0~80mm,使用专有保护的DCM测量距离补偿法  | 
样品定位  | |
视频系统  | 高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置  | 
手动聚焦,对被测位置进行监控  | |
十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)  | |
可调节亮度的LED照明,激光光点用于准确定位样品  | |
放大倍数  | 40x~160x  | 
电器参数  | |
电源要求  | 200V,50Hz  | 
功率  | 很大120W(不包括计算机)  | 
保护等级  | IP40  | 
尺寸规格  | |
外部尺寸  | 宽x深x高(mm):570x760x650  | 
内部测量室尺寸  | 宽x深x高(mm):460x495x(参考“样品较大高度”部分的说明)  | 
重量  | 107KG  | 
环境要求  | |
使用时温度  | 10℃~40℃  | 
存储或运输时温度  | 0℃~50℃  | 
空气相对湿度  | ≤95% 无结露  | 
工作台  | |
设计  | 手动X/Y平台  | 
X/Y平台较大移动范围  | 92x150mm  | 
可用样品放置区域  | 420x450mm  | 
Z轴  | 马达驱动  | 
Z轴移动范围  | 140mm  | 
样品很大重量  | 20KG  | 
样品很大高度  | 140mm  | 
激光(1级)定位点  | 有  | 
计算单元  | |
计算机  | 带扩展卡的Windows®计算机系统  | 
软件  | 标准:WinFTM®V.6 LIGHT  | 
可选:WinFTM®V.6 BASIC,PDM,SUPER  | |
执行标准  | |
CE合格标准  | EN 61010  | 
型式许可  | 作为受完全保护的仪器  | 
型式许可完全符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定  | |
中科汇仪
