设计用途

采用能量色散型X射线荧光光谱法（EDXRF），

用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度

元素范围

从元素氯（17）到铀（92），多时可同时测定24种元素。

重复性

测量金元素时≤1‰，测量时间60秒

形式设计

台式仪器，测量门向上开启

测量方向

由下往上

X射线源

X射线管

带铍窗口的钨靶射线管

高压

三档：30KV，40KV，50KV

孔径（准直器）

φ1mm；可选φ2mm

测量点尺寸

当测量距离MD=0mm时，测量点直径=孔径直径+200μm

X射线探测

X射线探测器

采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器

能量分辨率

（Mn元素Kα半高宽）

≤180eV

测量距离

0...10mm

通过受专有保护的DCM测量距离补偿法，可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量；对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量，可能需要进行额外的校准。

样品定位

样品放置

手动

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线光束方向，手动焦距，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸），可调节亮度的LED照明

图像发达倍数

40x~160x

工作台

形式设计

固定工作台

样品放置可用区域

310x320mm

样品较大重量

13KG

样品较高高度

90mm

电气参数

电源要求

AC 220V 50Hz

功耗

较大120W（不包括计算机）

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸（宽x深x高）

403x588x365mm

重量

大约45KG

环境要求

使用时温度

10℃~40℃

存储或运输时温度

0℃~50℃

空气相对湿度

≤95%，无结露

计算单元

计算机

Windows®-PC

软件

标准：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能

可选：Fischer WinFTM®

执行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497 和ASTM B 568

形式批准

作为受完全保护的仪器

符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定