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日本KETT LW-990膜厚计测试台

日本KETT LW-990膜厚计测试台

日本KETT LW-990膜厚计测试台人工测量误差减小,对测量管状物很有效。
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品       牌:
日本KETT
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日本KETT
日本KETT科学研究所成立于1946年,总部位于东京,主要从事研究和开发检测仪器设备,KETT的主要产品包括水分测试仪、镀层厚度测试仪及其他材料探测分析仪器。
仪器详情Particulars
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日本KETT LW-990膜厚计测试台人工测量误差减小,对测量管状物很有效。


日本KETT LW-990膜厚计测试台产品简介:

LW-990是通过将膜厚计探针或厚度计的升降部的整体式膜厚计安装于LW-990中,由于膜厚度测量仪的测里开始与测童对象接触--恒定的力和角度,人工测量误差减小,并且可以以高的重复精度测量来执行。如要测量的管状物,这是特别有效的。探针的膜厚计型,和支持双式膜厚计的LZ-990相对应。



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仪器参数Technical data
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日本KETT LW-990膜厚计测试台技术参数:

尺寸重量:150 (W) X210 (D) X280 (H) mm、2. 5kg

对应传感器:

探头类型:LEP和LHP- 20/20C/30/30C/ J

机身整体式:LZ-990


仪器附件Enclosure

日本KETT LW-990膜厚计测试台附件:

螺丝,电缆夹,探头支架(黑色和白色),探针,博尔特,轴支架,内六角扳手,使用说明书

LZ-990使用例子

探针型的使用例子




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电话:18510122998