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日本JIMA RT RC-04B分辨率测试卡

日本JIMA RT RC-04B分辨率测试卡

日本JIMA RT RC-04B 是一款采用蕞新半导体光刻技术制造的分辨率测试图。它用于校准和监控系统分辨率，确保您的微焦点或纳焦点 X 射线检测系统获得高质量的检测结果。
询价电话：
18510122998
010-56271718
品       牌：
日本JIMA
服务保障：
包  免国内快递物流费用 北京可送货
保  仪器一年保修
票  提供增值税专用发票
日本JIMA
JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
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仪器详情Particulars
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日本JIMA RT RC-04B 是一款采用蕞新半导体光刻技术制造的分辨率测试图。它用于校准和监控系统分辨率，确保您的微焦点或纳焦点 X 射线检测系统获得高质量的检测结果。


日本JIMA RT RC-04B分辨率测试卡产品简介：

日本JIMA RT RC-04B 是一款采用蕞新半导体光刻技术制造的分辨率测试图。它用于校准和监控系统分辨率，确保您的微焦点或纳焦点 X 射线检测系统获得高质量的检测结果。该测试图包含 23 条 T 形线，每条线包含 7 个间距，间距范围从 0.1µm 到 10µm。此测试图随附一个收纳盒(无需额外付费)，使用时请将其从收纳盒中取出。

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线条图案：

线宽/间距：0.1、0.15、0.2、0.25、0.3、0.35、0.4、0.5、0.6、0.7、0.8、0.9、10、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0、6.0、7.0、8.0、9.0、10.0 µm

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芯片横截面：

钨色图表绘制在一块6.25毫米见方的硅芯片上。该芯片固定在一个30 x 40毫米的铝制底座上，并用PET薄膜覆盖以保护芯片。

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仪器参数Technical data
中科汇仪网，我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。

日本JIMA RT RC-04B分辨率测试卡技术参数：

住房面积尺寸：30x40毫米x5毫米（厚）
硅基底尺寸15µm±1µm（厚度）
吸收材料钨，厚度≥650纳米
保护膜PET薄膜（厚度：25微米）
行数8行（7个空格），V&H，T形布局
行/间距大小0.1µm 至 10µm：0.1、0.15、0.2、0.25、0.3、0.35、0.4、0.5、0.6、0.7、0.8、0.9、10、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0、6.0、7.0、8.0、9.0、10.0 µm 宽度
线宽/尺寸公差0.1、0.15µm：±0.02µm / 0.02~2µm：±10% / 3~10µm：±8%（扫描电镜）
工作温度范围50°F至158°F（10°C至70°C）

日本JIMA RT RC-04B分辨率测试卡尺寸规格：

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