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瞬态平面热源技术(TPS)是用于测量导热系数的一种新型的方法，由瑞典 Chalmer 理工大学的 Silas Gustafsson 教授在热线法的基础上发展起来的。

HY-CH-07瞬态平面热源法导热仪产品简介：

导热仪：

瞬态平面热源技术(TPS)是用于测量导热系数的一种新型的方法，由瑞典 Chalmer 理工大学的 Silas Gustafsson 教授在热线法的基础上发展起来的。它测定材料热物性的原理是基于无限大介质中阶跃加热的圆盘形热源产生的瞬态温度响应。利用热阻性材料做成一个平面的探头，同时作为热源和温度传感器。合金的热阻系数一温度和电阻的关系呈线性关系，即通过了解电阻的变化可以知道热量的损失，从而反映了样品的导热性能。

TPS 方法：

瞬态平面热源(TPS) 基本原理是传感器的电源与电路保持电性连接，当电流通过传感器时，产生的升温会随着时间的推移被记录下来，产生的热量会取决于材料热传递特性的速率扩散到样品中。

瞬态平面热源法(TPS)：

TPS 传感器专为固体、糊剂和粉末而设计，它由封装在隔热层之间的双螺旋镍组成。该传感器(双面) 的标准操作是将其夹在两块相同的样品之间;若使用单片测试模组，仅需一块样品(单面)。

HY-CH-07瞬态平面热源法导热仪产品特点：

• 测试范围广泛，测试性能稳定，在国内同类仪器中，处于优先水平

• 直接测量，测试时间 5-160s 左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间

• 不会和静态法一样受到接触热阻的影响

• 无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可

• 对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用

• 探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算

• 样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观

• 探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠

• 主机的控制系统使用了 ARM 微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确

• 仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定

• 智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁

HY-CH-07瞬态平面热源法导热仪应用案例：

石英玻璃：

实验参数：

初始温度：31.1℃

探头型号：2号探头

输出功率：0.853W

探头电阻(Ω)：4.505Ω

测量时间：40S

实验结果：

导热系数：1.1421W/mK

热扩散系数：0.83mm²/s

温升：7.759℃

相关系数：0.999

总特征时间：0.411

有机硅：

实验参数：

初始温度：30.3℃

探头型号：2号探头

输出功率：0.412W

探头电阻(Ω)：4.505Ω

测量时间：40S

实验结果：

导热系数：0.8332W/mK

热扩散系数：0.96mm²/s

温升：5.394℃

相关系数：0.9978

总特征时间：0.427

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